在實際測量接觸電阻時，

常使用按開爾文電橋四端子法原理設(shè)計的接觸電阻測試儀（毫歐計），其專用夾具夾在被測接觸件端接部位兩端，故實際測量的總接觸電阻R由以下三部分組成，可由下式表示：

R= RC + Rf + Rp,式中：RC—集中電阻；Rf—膜層電阻；Rp—導(dǎo)體電阻。

接觸電阻檢驗?zāi)康氖谴_定電流流經(jīng)接觸件的接觸表面的電觸點時產(chǎn)生的電阻。

如果有大電流通過高阻觸點時，就可能產(chǎn)生過分的能量消耗，并使觸點產(chǎn)生危險的過熱現(xiàn)象。在很多應(yīng)用中要求接觸電阻低且穩(wěn)定，以使觸點上的電壓降不致影響電路狀況的精度。

 

在連接微弱信號電路中，設(shè)定的測試數(shù)條件對接觸電阻檢測結(jié)果有一定影響。

因為接觸表面會附有氧化層，油污或其他污染物，兩接觸件表面會產(chǎn)生膜層電阻。由于膜層為不良導(dǎo)體，隨膜層厚度增加，接觸電阻會迅速增大。膜層在高的接觸壓力下會機械擊穿，或在高電壓、大電流下會發(fā)生電擊穿。但對某些小型連接器設(shè)計的接觸壓力很小，工作電流電壓僅為mA和mV級，膜層電阻不易被擊穿，接觸電阻增大可能影響電信號的傳輸。

在GB5095“電子設(shè)備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法”中的接觸電阻測試方法之一，“接觸電阻-毫伏法” 規(guī)定，為防止接觸件上膜層被擊穿，測試回路交流或直流的開路峰值電壓應(yīng)不大于20mV，

交流或直流的測試中電流應(yīng)不大于100mA。

 

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